炭化ケイ素SiC多孔質セラミックディスク
Semixlabの炭化ケイ素(SiC)多孔質セラミックディスクは、精度、純度、耐久性が求められる高性能半導体ウェーハ処理アプリケーション向けに設計されています。制御された微細多孔性、優れた熱伝導性、そして化学的不活性性を備えたこの部品は、真空チャッキング、CMP(化学機械研磨)、エピタキシー、そしてウェーハハンドリングシステムにおいて重要な役割を果たします。
詳細説明
最適な用途: CMP プラットフォーム、MOCVD エピタキシーリアクター、ウェーハ転送モジュール、プラズマ洗浄システム、および ESC 基板アセンブリ。
Ⅰ. 材料組成と物理的特性
高純度SiCセラミック構造
99.9%以上の超純度α-SiCまたはβ-SiC粉末から製造される多孔質ディスクは、精密に制御された焼結および浸透プロセスを経て製造されます。その結果、均一な細孔ネットワークが形成され、過酷な処理環境下でも安定したガスフローと機械的完全性を確保します。
主な技術的特性:
| プロパティ | 製品仕様 |
| 材料 | α-SiC / β-SiC |
| お肌にいいもの | ≥99.9%で |
| 気孔 | 10~40%(調整可能) |
| 孔径 | 0.1〜10μm |
| 熱伝導率 | 120~200 W/m·K |
| 最高使用温度 | 1600-1800°C |
| 硬度 | モース硬度9.3 |
| 耐薬品性 | HF、HCl、Cl₂、H₂に優れています |
| 密度 | 2.8 ~ 3.1 g/cmXNUMX |
パフォーマンスのハイライト:
● 均一な真空透過性: 正確な細孔分布により、ウェーハ表面全体でバランスの取れたガスの流れが確保されます。
● 優れた熱安定性: 高温サイクル下でも機械的完全性を維持します。
● 低粒子生成: 研磨された SiC 表面により汚染リスクが最小限に抑えられます。
● 優れた耐久性: 過酷な化学薬品やプラズマ環境でも長寿命を実現します。
Ⅱ. 一般的なプロセス課題とSemixlabのソリューション
| 課題 | 根本的な原因 | セミクスラボソリューション |
| 不均一な真空吸引 | 不均一な孔サイズまたは目詰まり | 制御された細孔サイズ分布と定期的なプラズマ洗浄 |
| 粒子汚染 | 熱サイクルによる微小亀裂 | 表面強化のためCVD SiCコーティングを施す |
| 熱不均一性 | 不均一な密度または汚染 | 高伝導性SiC(>150 W/m`K)と研磨された表面を使用 |
| 化学侵食 | HFまたはClベースのガスへの長期暴露 | 耐腐食性を向上させるために高密度CVD SiCハイブリッド焼結を採用 |
| 経年劣化による機械的強度の低下 | 繰り返しウェーハローディングストレス | 二次浸透により破壊靭性を向上させ、耐用年数を延ばす |
Semixlab独自の材料制御と表面エンジニアリングにより、複数のプロセスサイクルにわたって一貫した性能、長期的な信頼性、そして機器のダウンタイムの削減を実現します。技術的なご相談や製品カスタマイズサービスについては、お気軽にお問い合わせください。
用途
半導体プロセスにおける応用
1. ウェーハ真空チャッキングとハンドリング
多孔質SiCディスクは、ウェーハローディング・搬送システムにおける真空チャックプレートやキャリアサポートとして広く使用されています。精密に設計された多孔質構造により、均一な真空吸引が確保され、ウェーハの変形を防ぎ、アライメント精度を向上させます。
2. 化学機械研磨(CMP)
CMP 中、多孔質 SiC ディスクはキャリアまたはバッキング プレートとして機能し、次のことが可能になります。
● 均一なスラリー分布
● 安定したウェーハサポート
● 平坦性と欠陥制御の改善
SiC は従来のアルミナや石英に比べて硬度と熱伝導率が高く、寿命が長くなり、プロセスの一貫性が向上します。
3. エピタキシーと高温処理
MOCVD および LPE エピタキシャルリアクターでは、SiC 多孔質ディスクが熱サセプタベースまたはサポートプラットフォームとして機能し、次のことが保証されます。
● ウェーハ全体にわたる均一な熱伝達
● 安定したエピタキシャル層厚
● 反応性プロセスガスに対する高い耐性
4. ウェット&プラズマ洗浄システム
多孔質 SiC ディスクは、耐薬品性および耐プラズマ腐食性を備えているため、ウェットベンチや洗浄チャンバー内のガス拡散プレートや化学ろ過基板として効果的に機能します。
5. ESC(静電チャック)ベース層
高度なウェーハステージでは、多孔質 SiC セラミックが ESC の熱ベースとして機能し、優れた熱伝達と電気絶縁性を組み合わせることで、正確なウェーハ温度制御を実現します。
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